输出模式 NPN.NC 光轴数 100 beam 检测高度 100 mm 分辨率 3 mm 检出方式 Through beam / 对照式 检测距离 0.3M ~ 3M 工作电压 10 ~ 30 VD...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 8 检测高度 70 mm 光轴间距 10 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 15 mm opaque obj...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 8 检测高度 140 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque ob...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 8 检测高度 140 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque ob...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 16 检测高度 300 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque o...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 24 检测高度 300 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque o...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 24 检测高度 460 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque o...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 24 检测高度 620 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque o...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 32 检测高度 620 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque o...

输出模式 NPN or PNP L.on / D.on 光轴数 32 检测高度 620 mm 光轴间距 20 mm 检出方式 Through beam / 对照式 分辨率 30 mm opaque o...